培訓(xùn)內(nèi)容

電子產(chǎn)品失效分析經(jīng)典案例

1、 失效分析全過程案例

2、靜電放電失效機(jī)理講解與案例分析

3、閂鎖失效機(jī)理講解與案例分析

4、過電失效類失效機(jī)理講解與案例分析

5、機(jī)械應(yīng)力類失效機(jī)理講解與案例分析

6、熱變應(yīng)力類失效機(jī)理講解與案例分析

7、結(jié)構(gòu)缺陷類失效機(jī)理講解與案例分析

8、材料缺陷類失效機(jī)理講解與案例分析

9、工藝缺陷類失效機(jī)理講解與案例分析

10、應(yīng)用設(shè)計(jì)缺陷類失效機(jī)理講解與案例分析

11、污染腐蝕類失效機(jī)理講解與案例分析

12、元器件固有機(jī)理類失效機(jī)理講解與案例分析

13、 面目全非的樣品的分析

可靠性設(shè)計(jì)與分析

1、電子元器件的選擇，主要失效機(jī)理、應(yīng)用可靠性設(shè)計(jì)規(guī)則

A電子元器件的選用與控制 ??????

B元器件失效的內(nèi)因與外因

C電阻器的種類、結(jié)構(gòu)、失效模式、失效機(jī)理、使用規(guī)則及案例

D瓷介質(zhì)電容器的種類、結(jié)構(gòu)、失效模式、失效機(jī)理、使用規(guī)則及案例

E鋁電解電容器的種類、結(jié)構(gòu)、失效模式、失效機(jī)理、使用規(guī)則及案例

F繼電器的種類、結(jié)構(gòu)、失效模式、失效機(jī)理、使用規(guī)則及案例

G連接器與開關(guān)的種類、結(jié)構(gòu)、失效模式、失效機(jī)理、使用規(guī)則及案例

H諧振器與振蕩器的種類、結(jié)構(gòu)、失效模式、失效機(jī)理、使用規(guī)則及案例

I分立半導(dǎo)體器件的種類、結(jié)構(gòu)、失效模式、失效機(jī)理、使用規(guī)則及案例

J集成電路的種類、結(jié)構(gòu)、失效模式、失效機(jī)理、使用規(guī)則及案例

2、整機(jī)級(jí)可靠性設(shè)計(jì)技術(shù)方法

A熱設(shè)計(jì) ??????B電磁兼容設(shè)計(jì) ?????C“三防”設(shè)計(jì)

D耐振設(shè)計(jì) ????E安全性設(shè)計(jì) ???????F接地與布線的設(shè)計(jì)

3、故障模式、影響及危害度分析

A概述與特點(diǎn)

B GJB/Z 1391—2006規(guī)定的功能及硬件FMECA：步驟與實(shí)施，示例

C GJB/Z 1391—2006規(guī)定的過程FMECA：步驟與實(shí)施，示例

D QS 9000規(guī)定的潛在失效模式影響分析

4、故障樹分析

A概述 ???????B故障樹中常用的術(shù)語(yǔ)與符號(hào) ??????C FTA的一般步驟

D確定頂事件 ??E建立故障樹 ????F故障樹的規(guī)范化、簡(jiǎn)化和模塊分解

G故障樹的定性分析 ????H故障樹的定量分析 ??????I ?FTA應(yīng)用實(shí)例

可靠性試驗(yàn)與評(píng)價(jià)

1、可靠性試驗(yàn)數(shù)據(jù)的分析與處理

A數(shù)據(jù)的收集與初步整理分析 ???????????B分布類型的檢驗(yàn)

C連續(xù)型分布的參數(shù)估計(jì) ???????????????D離散型分布的參數(shù)估計(jì)

2、環(huán)境應(yīng)力效應(yīng)與典型電子產(chǎn)品失效機(jī)理

A應(yīng)力與失效機(jī)理的認(rèn)識(shí) B環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)的作用和分類 C環(huán)境應(yīng)力的效應(yīng)

D高溫的環(huán)境效應(yīng)及案例 E低溫的環(huán)境效應(yīng)及案例F溫度變化的環(huán)境效應(yīng)及案例

G濕度及含鹽氣氛的環(huán)境效應(yīng)及案例 ??H機(jī)械應(yīng)力的環(huán)境效應(yīng)及案例

I綜合應(yīng)力的環(huán)境效應(yīng) ??????J失效機(jī)理歸納 ???????K半導(dǎo)體的主要失效機(jī)理

L電化學(xué)腐蝕及遷移 ?M電遷移 ?N熱疲勞 ?O應(yīng)力遷移 ??P機(jī)械疲勞

3、加速試驗(yàn)技術(shù)

A加速應(yīng)力試驗(yàn)概述 ??B加速試驗(yàn)的分類 ??C 加速的模型

D恒定應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)的統(tǒng)計(jì)分析 ???????E基于退化數(shù)據(jù)的可靠性數(shù)據(jù)分析

F耐久性數(shù)據(jù)分析 ?G 加速試驗(yàn)方案的設(shè)計(jì) ?H加速壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)圖估法的應(yīng)用

I加速壽命試驗(yàn)關(guān)鍵指標(biāo)計(jì)算案例 ??????????J加速試驗(yàn)方法的局限性

4、各門類電子元器件的定性可靠性評(píng)價(jià)方法

A元件類 ???????B器件類